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Onto Innovation Inc. engages in the design, development, manufacture, and support of process control tools that perform macro-defect inspection and metrology in the United States, Taiwan, South Korea, Japan, China, Southeast Asia, Asia, and Europe. The company offers lithography systems and process control analytical software; and automated and integrated metrology systems, silicon wafer all-surface inspection, macro defect inspection, automated defect classification and pattern analysis, yield analysis, opaque film metrology, 4D business, advanced packaging lithography, process control software, and yield management software products. It also provides process and yield management solutions, and device packaging and test facilities through standalone systems for optical metrology, macro-defect inspection, packaging lithography, and transparent and opaque thin film measurements. In addition, the company offers process control software portfolio that includes solutions for standalone tools, groups of tools, and factory-wide suites. Further, it engages in systems and software, spare parts, and other services, as well as offers software licensing services; and provides advanced product lines, such as FAaST, CnCV, and MBIR. The company's products are used in semiconductor and advanced packaging device manufacturers; silicon wafers; semiconductor integrated circuit fabricators; light emitting diodes; vertical-cavity surface-emitting lasers; micro-electromechanical systems; CMOS image sensors; silicon and compound semiconductor power devices; analog devices; RF filters; data storage; and various industrial and scientific applications. Onto Innovation Inc. was founded in 1940 and is headquartered in Wilmington, Massachusetts.
Onto Innovation Inc.는 미국, 대만, 한국, 일본, 중국, 동남아시아, 아시아 및 유럽 지역에서 거대 결함 검사 및 계측을 수행하는 공정 제어 장비의 설계, 개발, 제조 및 지원 사업을 영위합니다. 이 회사는 리소그래피 시스템 및 공정 제어 분석 소프트웨어, 자동 및 통합 계측 시스템, 실리콘 웨이퍼 전면 검사, 거대 결함 검사, 자동 결함 분류 및 패턴 분석, 수율 분석, 불투명 박막 계측, 4D business, 첨단 패키징 리소그래피, 공정 제어 소프트웨어, 그리고 수율 관리 소프트웨어 제품을 제공합니다. 또한, 이 회사는 광학 계측, 거대 결함 검사, 패키징 리소그래피, 투명 및 불투명 박막 측정을 위한 독립형 시스템을 통해 공정 및 수율 관리 솔루션, 그리고 장치 패키징 및 테스트 시설을 제공합니다. 이와 더불어, 독립형 장비, 장비 그룹 및 공장 전체 스위트용 솔루션을 포함하는 공정 제어 소프트웨어 포트폴리오를 제공합니다. 나아가, 시스템 및 소프트웨어, 예비 부품 및 기타 서비스 사업을 영위하고 소프트웨어 라이선싱 서비스를 제공하며, FAaST, CnCV, MBIR과 같은 첨단 제품 라인을 제공합니다. 이 회사의 제품은 반도체 및 첨단 패키징 장치 제조업체, 실리콘 웨이퍼, 반도체 집적 회로 제조사, 발광 다이오드, 수직 공진 표면 발광 레이저, 미세 전자기계 시스템, CMOS 이미지 센서, 실리콘 및 화합물 반도체 전력 장치, 아날로그 장치, RF 필터, 데이터 저장, 그리고 다양한 산업 및 과학 응용 분야에서 사용됩니다. Onto Innovation Inc.는 1940년에 설립되었으며, 매사추세츠주 윌밍턴에 본사를 두고 있습니다.